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  • ASTM E81-96(2017)
    準備極數的標準測試方法

    Standard Test Method for Preparing Quantitative Pole Figures


    標準號
    ASTM E81-96(2017)
    發布
    2017年
    總頁數
    7頁
    發布單位
    美國材料與試驗協會
    替代標準
    ASTM E81-96(2024)
    當前最新
    ASTM E81-96(2024)
     
     
    適用范圍
    1.1 本測試方法涵蓋使用 X 射線衍射儀來制備定量極圖。
    1.2 測試方法由幾個實驗程序組成。某些程序 (1-5)2 允許準備完整的極圖。其他必須結合使用才能產生完整的極圖。
    1.3 極圖(6)和反極圖(7-10)是三維微晶取向分布的二維平均值。極圖可用于構建反極圖 (11-13) 或微晶取向分布 (14-21)。從反射極圖(22、23)開發微晶取向分布的級數展開使得可以從幾個不完整極圖獲得完整極圖的級數展開。通過這種方法得出的極圖或反極圖應稱為計算的。這里將不再描述這些技術。
    1.4 如果板材的整個厚度方向是均勻的,則可以使用某些程序(1-3)來獲得完整的極圖。
    1.5 如果方向相對于垂直于滾動方向、橫向方向和法向方向的平面鏡像對稱,則可以使用某些程序(4、5、24)來獲得完整的極圖。
    1.6 測試方法強調舒爾茨反射技術(25)。其他技術(3、4、5、24)可以被認為是 Schulz 技術的變體,并作為選項被引用,但本文未描述。
    1.7 測試方法還包括 Decker 等人 (26) 的傳輸技術的描述,該技術可以與 Schulz 反射技術結合使用以獲得完整的極圖。
    1.8 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題(如果有)。本標準的使用者有責任在使用前建立適當的安全和健康實踐并確定監管限制的適用性。
    1.9 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘(TBT)委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。
    術語描述
    極性圖
    Pole Figure
    二維圖形表示三維晶粒取向分布的平均值。
    逆極性圖
    Inverse Pole Figure
    極性圖的二維平均,通常用于分析晶體取向。

    ASTM E81-96(2017) 中提到的儀器設備

    X射線衍射儀

    商業可用設備如帶有Schulz反射幾何結構的設備
    用于測量晶體結構和取向,通過分析衍射圖案來確定材料特性。

    ASTM E81-96(2017)相似標準





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